检测项目

钨含量：纯度检测范围70.00%~99.99%，精度±0.01%（GB/T4324.1）

氧含量：检测限0.05%~10.00%，分辨率0.01%（ISO4491-2）

平均粒径：D50测量范围0.01~100μm，重复性±0.5%（ASTMB822）

真实密度：测量值0.5~20g/cm³，精度±0.001g/cm³（GB/T5162）

比表面积：BET法范围0.1~1000m²/g，误差±1%（ISO9277）

晶体相纯度：XRD分析检测WO3相，分辨率0.1%（ASTME975）

铁杂质含量：检测限0.0001%~0.5%，精度±0.00005%（GB/T4324.10）

镍杂质含量：检测限0.0005%~1.0%，重复性±0.0001%（ISO11885）

水分含量：卡尔费休法范围0.001%~5.0%，精度±0.01%（GB/T6283）

松装密度：测量值0.2~5g/cm³，偏差±0.01g/cm³（ASTMB212）

流动性能：霍尔流速计法时间测量1~100s，精度±0.1s（ISO4490）

铬杂质含量：检测限0.0002%~0.8%，误差±0.0001%（GB/T20127）

颗粒形貌：SEM观察分辨率1nm，符合ASTME766

检测范围

脱硝催化剂载体材料：用于工业废气处理系统

电子陶瓷组件：电容器和传感器基材

硬质合金添加剂：碳化钨基复合材料

太阳能电池光阳极：光电转换材料

热喷涂耐磨涂层：机械部件表面处理

锂离子电池阴极：储能材料应用

颜料和染料工业：黄色和棕色颜料原料

核辐射屏蔽材料：高密度防护组件

陶瓷纤维增强体：复合材料结构

磁性记录介质：数据存储器件

化学气相沉积薄膜：半导体器件制备

高温润滑剂：机械摩擦减少剂

气体传感器元件：环境监测器件

检测方法

X射线荧光光谱法：依据ISO12677测定元素含量

激光衍射粒度分析法：依据ISO13320测定粒径分布

热重分析法：依据GB/T19469测定挥发物和水分

X射线衍射法：依据ASTME975分析晶体结构

电感耦合等离子体发射光谱法：依据GB/T20127测定杂质元素

BET氮吸附法：依据ISO9277测量比表面积

卡尔费休滴定法：依据GB/T6283检测水分含量

扫描电子显微镜法：依据ASTME766观察粉末形貌

气体置换密度法：依据GB/T5162测定真实密度

霍尔流速测试法：依据ISO4490评估流动性能

原子吸收光谱法：依据GB/T4324测定特定金属杂质

热分析法：依据ASTME1131测定热稳定性

电导率测试法：依据ISO11276评估粉末导电性

检测设备

MalvernMastersizer3000激光粒度分析仪：粒径范围0.01-3500μm

ShimadzuEDX-7200X射线荧光光谱仪：元素分析Na-U

PerkinElmerTGA8000热重分析仪：温度范围室温-1000°C

BrukerD8AdvanceX射线衍射仪：角度范围5-80°2θ

ThermoScientificiCAP7400ICP-OES光谱仪：检测限0.1ppb

MicromeriticsASAP2460比表面积分析仪：支持BET方法

MettlerToledoV30卡尔费休滴定仪：水分精度0.001mg

ZeissEVOMA10扫描电子显微镜：分辨率3nm

QuantachromeUltrapyc1200e真密度计：精度±0.0001g/cm³

PharmaTestPTB311霍尔流速计：时间精度±0.1s

Agilent240FS原子吸收光谱仪：元素检测范围ppb-ppm

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。